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当前分类数量:237  点击返回 当前位置:首页 > 中图法 【TN30 一般性问题】 分类索引
  • 中等体积分数SiCp/Al复合材料的组织与性能
    • 中等体积分数SiCp/Al复合材料的组织与性能
    • 郝世明等著/2024-9-1/ 冶金工业出版社/定价:¥75
    • 本书以光学/仪表级复合材料为应用背景,以高比模量、高比强度、低膨胀、高导热及高尺寸稳定性等性能为目标,针对中等体积分数SiCp/Al复合材料的制备及性能调控难题,介绍了粉末冶金法制备SiCp/Al复合材料优化工艺,通过碳化硅颗粒尺寸调控实现复合材料的性能改进,进一步介绍了不同碳化硅颗粒尺寸调控下复合材料的力学性能、界面

    • ISBN:9787502499877
  • 半导体异质结纳米材料光电化学性能分析
    • 半导体异质结纳米材料光电化学性能分析
    • 邵珠峰著/2024-9-1/ 冶金工业出版社/定价:¥75
    • 本书主要内容是介绍TO2光催化剂的局限性,以及利用构筑TiO2基纳米异质结来提高其光电化学性能。具体包括通过水热法、阳极氧化等方法制备m&t-BiVO4/TiO2-NTAs、TiO2/PSA、CdS/PSA和CdS/TiO2-NTAs等纳米异质结光催化剂,分析它们的电荷转移机制和光电化学性能。

    • ISBN:9787502499839
  • 超快光谱表征半导体异质结纳米材料光电化学性能
    • 超快光谱表征半导体异质结纳米材料光电化学性能
    • 邵珠峰著/2024-9-1/ 冶金工业出版社/定价:¥75
    • 本书旨在系统探讨超快光谱在半导体纳米异质结电荷转移与光电化学性能方面的应用,主要内容包括纳米异质结复合体系的构筑与表征,TiO2/Au/Cu2O纳米管复合体系表(界)面紫外光生电荷动力学行为,TiO2/BiVO4纳米管复合体系表(界)面紫外光生电荷动力学行为,TiO2/Mo2S纳米管复合体系表(界)面紫外光生电荷动力学

    • ISBN:9787502499822
  • 氮化镓电子器件热管理
    • 氮化镓电子器件热管理
    • (美)马尔科·J.塔德尔(MarkoJ.Tadjer),(美)特拉维斯·J.安德森(TravisJ.Anderson)主编/2024-9-1/ 机械工业出版社/定价:¥168
    • 本书概述了业界前沿研究者所采取的技术方法,以及他们所面临的挑战和在该领域所取得的进展。具体内容包括宽禁带半导体器件中的热问题、氮化镓(GaN)及相关材料的第一性原理热输运建模、多晶金刚石从介观尺度到纳米尺度的热输运、固体界面热输运基本理论、氮化镓界面热导上限的预测和测量、AlGaN/GaNHEMT器件物理与电热建模、氮

    • ISBN:9787111764557
  •  宽禁带功率半导体封装 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • 宽禁带功率半导体封装 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • [日]菅沼克昭(Katsuaki Suganuma)/2024-9-1/ 机械工业出版社/定价:¥119
    • 本书是国外学者们对宽禁带半导体封装技术和趋势的及时总结。首先,对宽禁带功率器件的发展趋势做了总结和预演判断,讲述宽禁带功率半导体的基本原理和特性,包括其独特的物理和化学属性,以及它们在极端环境下的潜在优势。接着介绍封装材料的选择和特性,分别就互连技术和衬底展开论述,同时,介绍了磁性材料,并对不同材料结构的热性能,以及冷

    • ISBN:9787111763178
  • 宽禁带功率半导体器件可靠性
    • 宽禁带功率半导体器件可靠性
    • 孙伟锋著/2024-9-1/ 东南大学出版社/定价:¥0
    • 以碳化硅、氮化镓为代表的第三代宽禁带功率半导体器件具有导通电阻低、击穿电压高、开关速度快及热传导性好等优点,相比传统的Si基功率器件,可简化功率电子系统拓扑结构,减小系统损耗和体积,因而对功率电子系统的发展至关重要。然而,由于宽禁带器件的外延材料和制备工艺仍不完善,器件界面缺陷密度大等问题,使得宽禁带功率器件在高温、高

    • ISBN:9787576601534
  • 现代集成电路工厂中的先进光刻工艺研发方法与流程
    • 现代集成电路工厂中的先进光刻工艺研发方法与流程
    • 李艳丽、伍强/2024-9-1/ 清华大学出版社/定价:¥128
    • "本书基于作者团队多年的光刻工艺(包括先进光刻工艺)研发经验,从集成电路工厂的基本结构、半导体芯片制造中常用的控制系统、图表等基本内容出发,依次介绍光刻基础知识,一个6晶体管静态随机存储器的电路结构与3个关键技术节点中SRAM制造的基本工艺流程,光刻机的发展历史、光刻工艺8步流程、光刻胶以及掩模版类型,光刻工艺标准化与

    • ISBN:9787302664185
  • 宽禁带功率半导体器件建模与应用
    • 宽禁带功率半导体器件建模与应用
    • 肖龙著/2024-8-1/ 机械工业出版社/定价:¥39.8
    • 本书详细地阐述了宽禁带功率半导体器件的发展现状、电热行为模型建模方法与模型参数提取优化算法、开通和关断过电压问题分析和抑制方法、串扰导通问题机理与抑制方法。通过LLC变换器展示了如何借助宽禁带器件电热行为模型完成功率变换器硬件优化设计和控制算法的仿真验证,并分析了平面磁集成矩阵变压器的优化设计方法,建立了LLC变换器小

    • ISBN:9787111765387
  • 低维半导体材料及其信息能源器件(陶立)
    • 低维半导体材料及其信息能源器件(陶立)
    • 陶立、吴俊、朱蓓蓓 等 编著/2024-8-1/ 化学工业出版社/定价:¥59
    • 《低维半导体材料及其信息能源器件》讲述了低维半导体材料与器件的制备与构筑及其在电子信息和绿色能源领域的新颖应用。全书共7章,涵盖了低维材料的生长和表征、二维半导体材料在触觉传感器的应用、二维过渡金属硫化合物感通融器件、二维过渡金属硫化物的纳米光子学和光电子学、二维半导体材料材料非易失性阻变存储器和射频开关、四/五主族二

    • ISBN:9787122464101
  • SMT单板互连可靠性与典型失效场景
    • SMT单板互连可靠性与典型失效场景
    • 贾忠中/2024-8-1/ 电子工业出版社/定价:¥168
    • 本书是作者从事电子制造40年来有关单板互连可靠性方面的经验总结,讨论了单板常见的失效模式、典型失效场景以及如何设计与制造高可靠性产品的广泛问题,并通过大量篇幅重点讨论了焊点的断裂失效现象及裂纹特征。全书内容共4个部分,第一部分为焊点失效机理与裂纹特征,详细介绍焊点的失效模式、失效机理、裂纹特征及失效分析方法;第二部分为

    • ISBN:9787121486371